升降顯微鏡鏡筒相對(duì)折射率-浸油相對(duì)折射率
浸油的相對(duì)折射率
直照法又稱為貝克線法。在單偏光下兩介質(zhì)交界處將形成貝克線
,根據(jù)升降顯微鏡鏡筒時(shí)貝克線的移動(dòng)情況即可判別兩介質(zhì)相對(duì)折射
率高低,故稱直照法。
晶體與浸油的折射率不等,在單偏光下提升鏡筒,貝克線總是向
折射率較高的介質(zhì)一邊移動(dòng),以此即可判別二者折射率的高低。在二
者折射率相近或相等時(shí)邊緣及突起幾乎不見,用白光照射的貝克線將
發(fā)生色散,此時(shí)即可用浸油的折射率代表晶體的折射率。直照法測(cè)量
晶體折射率最好使用單色光照明。
位錯(cuò)是實(shí)際晶體在結(jié)晶時(shí)受到雜質(zhì)、溫度變化或振動(dòng)產(chǎn)生的應(yīng)力作
用,或由于晶體受到打擊、切削、研磨等機(jī)械應(yīng)力的作用,使內(nèi)部質(zhì)
點(diǎn)排列變形,原子行列相互滑移,而不再符合理想晶體的有序排列所
形成的線狀缺陷。它以棱位錯(cuò)(或刃位錯(cuò))和螺旋位錯(cuò)的形式出現(xiàn)。前
者的特征是滑移方向b和位錯(cuò)線垂直;后者是滑移方向b和位錯(cuò)線相互
平行。這些缺陷在所有的結(jié)構(gòu)中都可以找到,然而數(shù)量會(huì)有差別,位
錯(cuò)密度(單位體積含位錯(cuò)線的總長(zhǎng)度移線或滑移面移動(dòng)(在某些情況下
也可能發(fā)生爬移)。這種現(xiàn)象使無機(jī)非金屬固體易于熱塑變形和蠕變。
螺旋位錯(cuò)的存在加速了晶體生長(zhǎng)。位錯(cuò)存在的區(qū)域原子活動(dòng)性較大,
所以能加速物質(zhì)在固體中的擴(kuò)散,這對(duì)固相反應(yīng)和燒結(jié)有重要意義。
位錯(cuò)堆積經(jīng)常導(dǎo)致形成微裂紋和微小楔口,這是脆性破壞現(xiàn)象的起點(diǎn)