集成電路反光顯微鏡試樣分析圖像顯微鏡
反射光礦物的光學性質
反光顯微鏡下研究試樣光片，可以測定晶體的反射率及雙反射、
反射色及反射多色性、內反射及內反射色、偏光色、偏光圖等光學性
質，這些均是鑒定和識別晶體的依據(jù)。
晶體的反射率反射率和折射率一樣是晶體的重要光學常數(shù)，常需
要進行精確地測量，測定的方法有：比較法、光片法和裂隙光度計法
等。
人類利用陶瓷這些優(yōu)異熱性能的起始可以追溯到遠古人類在懂得
了火的使用之后不久,又發(fā)現(xiàn)了泥土加熱后可以得到很堅硬的燒結的物
件這一事實,于是陶瓷就這樣誕生了。當我們對作為陶瓷材料的起源—
—陶器進行考察時,可以有兩點結論:
其一為:用水把泥土捏和,作成任意的形狀,干燥后再經高溫焙燒
可以得到所需陶器。這種生產過程,仍然為現(xiàn)代陶瓷材料所采用。不同
的只是所用原材料由天然的巖石、礦物、粘土等改變?yōu)殡s質更少的、
經過加工的原材料而已。因此,為了改善成形性和燒納性,提高制品性
能,可以控制原材料粉末的各種性質(所謂燒結,就是把固體的粉末在低
于其溶融溫度的條件下加熱、焙燒而使變硬的過程)。并且,為使成形
易于進行,還研究了各種添加劑,對加熱過程也盡可能做到有精確的溫
度控制。所有這一系列措施帶來了陶瓷材料的飛躍進步。但是歸根到
底,今天我們得以使用的各類陶瓷制品,如炊事用具、磚瓦、火石或絕
緣子等陶瓷器件、鐵氧體、集成電路板、電容器材料等,都是采用基本
上相同的過程制造出來的。
